介电常数介质损耗测试仪
高低频介电常数测试仪

GCSTD-D

一、满足标准：

GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

 ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

四、简要介绍

测试材料：

无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

半导体元件：变容二管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

五、随机配置

1、主机：1台

2、测试电：1套

3、数据线：1套

4、电源线：1根

5、合格证：一份

6、测试系统：一套

二、试验方法：

接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料

非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料

电类型：固定电-测量电φ38mm/φ50mm(标配电1套，标配为38mm)

          液体电-液体容量15ml

          粉体电-根据样品量可配用电

试样类型：固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物

三、性能特点

■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进 
■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进 
■ 基本准确度0.1%
■ 高达200次/s的测量速度 
■ 320×240点阵大型图形LCD显示 
■ 五位读数分辨率 
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗                                           
■ 10点列表扫描测试功能 
■ 内部自带直流偏置源 
■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 
■ V、I测试信号电平监视功能 
■ 图形扫描分析功能 
■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 
■ 内建比较器,10档分选及计数功能 
■ 多种通讯接口方便用户联机使用                                 
■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
■ 中英文可选操作界面 
■ 可通过USB HOST 自动升仪器工作程序

六 、技术参数

介电常数介质损耗测试仪

设CVT测试功能，可实现CVT的自激法测试，无需外置附件，只需一次测量，C1,C2的电容和介损全部测出。

2反接线测试采用ivddv技术,消除了以往反接线数据不稳定的现象。

3具有反接线低压屏蔽功能，在220kV CVT 母线接地情况下，对C11 可进行不拆线10kV 反接线介损测量

4具有测量高电压介损功能，能够使用高压变压器或串联谐振进行超过10kV电压的介损试验。

5接地保护功能，当仪器不接地线或接地不良时，仪器不进入正常程序，不输出高压。

6触电保护功能，当操作人员不小心触电时候，仪器会立即切断高压，保障试验人员的安全.

异频介质损耗测试仪注意事项

1．仪器尽量选择在宽畅，安全可靠的地方使用；

2．被试设备从运行状态断开高压引线转为检修状态，并对其清扫，初步绝

缘试验良好后，方可利用该仪器进行试验，以防被试设备绝缘低劣，使仪器在加压过程中损坏；

3．根据设备的安装情况确定采用那种接线，并在相应的菜单选项中选择其

接线方法；

4．根据不同设备正确选择测试电压等，并在相应的菜单选项中选择所需

电压；

5．测试过程中如遇危及安全的特殊情况时，可紧急关闭总电源；

6．断开面板上电源开关，并明显断开220V试验电源，才能进行接线更改

或工作结束；重复对同一试验设备进行复测时，可按下复位后，重新测量，也可以在上一次测试完成后选择重复进行；

7．为保证测量精度，特别当小电容量试品损耗小时，一定要保证被试设备

介电常数介质损耗测试仪

高温测试平台是为样品提供一个高温环境;高温测试夹具提供待测试样品的测试平台;阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。

射频阻抗/材料分析提供限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。

再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的高温介电测量系统。

软件可根据实验方案设计，通过测量C和D值，自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量，同时输出，测量效率高、数据丰富多样。

与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和1 mHz的分辨率。 

数据库存档，数据分析更高效,软件自带数据库存储系统，数据可保存至系统数据库，可供历史数据查询与分析。另外，还支持Excel、txt文件格式导出保存。

高温介电测量系统用于高温下材料的介电性能测量与分析，包括介电常数、介质损耗、电容等参数。系统软件也可以测量其它阻抗参数。

系统使用平行电方法测量介电参数，多可以同时测量四个样品，应用于绝缘材料产品的开发与检测，评估产品介电性能与温度的关系。

高温四探针测量系统;高温绝缘电阻测量系统 ,多工位玻璃试管旋转密封系统 ,气敏电阻测量系统, 多路油浴化装置

 介电常数测试仪及介质损耗测试仪

 一、满足标准：

GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

 ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

二、方法概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

三、主要用途:

    主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）

四、应用对象:

    该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

介电常数介质损耗测试仪

管状试样

对管状试样而言，*合适的电系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。一般情况下，电系统应为一个内电和一个稍为窄一些的外电和外电两端的保护电组成，外电和保护电之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样，外表面可加三条箔带或沉积金属带，中间一条用作为外电（测量电），两端各有一条用作保护电。内电可用汞，沉积金属膜或配合较好的金属芯轴。

高电容率的管状试样，其内电和外电可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电。

大直径的管状或圆筒形试样，其电系统可以是圆形或矩形的搭接，并且只对管的部分圆周进行试验。这种试样可按板状试样对待，金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电与金属箔或沉积金属膜的外电和保护电一起使用。如采用金属箔做内电，为了保证电和试样之间的良好接触，需在管内采用一个弹性的可膨胀的夹具。

对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电的系统。对于相对电容率εr不超过10的管状试样，*方便的电是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电；瓷管上可采用烧熔金属电。电可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分圆周上。

更新时间：2023/11/9 12:30:07