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产品展示

半导体粉末电阻率测试仪

半导体粉末电阻率测试仪

价格:电议 型号:GEST-126

原产地:中国大陆发布时间:2020/8/1 10:30:02

半导体粉末电阻率测试仪
炭素材料电阻率测试仪主要用于测量炭素材料电阻率的专用仪器.
仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量
试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。
半导体粉末电阻率测试仪

采购度:45

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详细内容

半导体粉末电阻率测试仪

产品名称:导体粉末电阻率试验仪

产品型号:GEST-126

参考标准:YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分:粉末电阻率的测定.pdf

GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

典型应用

8.1 测量防静电鞋、导电鞋的电阻值

按照国家标准GB4386-84《防静电胶底鞋(靴)、导电胶底鞋(靴)电阻值测量方法》防静电鞋的电阻值必须为0.5.×105Ω1.0×108Ω范围内,导电鞋的电阻值必须不大于1.5X105欧姆.不仅制造厂在出厂时必须按这一标准检验,合格后才能出厂,在工厂使用过程中也必须按这一标准进行定期检验,合格后才能穿用。   

制造厂测量新鞋的电阻值时,应将硫化后有新鞋放置24小时以上,然后在测量所要求的温度、湿度环境中放置2小时以后才能进行测量。使用单位在定期检测时应将鞋洗干净,其温湿度的要求及放置时间同上。测量环境要求为:温度:10℃ ~ 40℃相对湿度为40% ~ 70%。 由于HEST121型数字表面、体积电阻率测定仪是内部同时测量电压和电流,且直接显示出电阻值,所以不必另外使用电压表和电流表以及计算电阻值。

通常测试防静电鞋只用106、107、108Ω档,测试完毕将开关拨回104档。

    根据上述测试的结果,根据标准来确定被测鞋是否合格或能否穿用。    

8.2. 测量防静电材料的电阻及电阻率

    一般防静电材料的电阻值在105 Ω~1010 Ω左右的范围内,其测量电极可采用三电极或二电极,其具体测量方法可参照有关的标准或有关资料。

8.3. 测量计算机房用活动地板的系统电阻值

    按照国家标准GB6650-86《计算机房用活动地板技术条件》。采用该标准的电极(也可用三电极中的主电极)测量。

  4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子,并先将探针头子拧紧,再将尾部航空头插上,并且旋紧小螺丝;
  5、将针装好,注意针头针尾方向,尖头为探针头部。
粉尘比电阻测定仪
额定工作电压 在允许的环境条件下,在规定的工作寿命期间,可以连续加在电容上的*直流电压或交流电压的有效值称为电容的额定工作电压。额定工作电压是电容在规定期限内,规定条件下能够可靠工作的电压。工作条件或工作期限超过规定范围时,电容的工作电压必须随之而产生相应的变化,否则将会影响电容的工作可靠性。 
橡胶、塑料、聚酯薄膜、胶片、硅胶、光伏组件、汽车零部件、复合材料、陶瓷、玻璃、云母、树脂等固体绝缘材料。配备不同电极还可测试液体、粉末材料。
GB/T 10064-2006 测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法(IEC 60167:1964,IDT)
GB/T 10580-2003固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件。EC 60212:1971,IDT)
IEC 60260: 1968 非注入式恒定相对温度的试验

产品概述:

粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.

由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电

,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。

仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业,进行检测必备测试设备。

测试(显示电压)精度及稳定度:

使用电压量程20mV—2V及使用10uA—100mA电流输出档时 : ±(0.1%读数+6字)

使用电压量程2mV档及使用1uA电流输出档时:±(0.25%读数+8字)

显示:4?位数字显示 0—1.9999及相应单位显示。

4、电源:220±10% 50HZ或60HZ 功率消耗<50W

电容的主要参数

电容的主要参数有:标称电容量与允许偏差、额定工作电压、介电强度、损耗、绝缘电阻、电容温度系数等。 

压电陶瓷材料体积电阻率测试仪,表面电阻测量,防静电表面电阻测试仪,表面电阻测试仪生产商,半导体电阻率测试仪,材料体积表面电阻率测试仪,液体体积电阻率测定仪;半导体电阻率测试仪

1、标称电容量与允许偏差 电容标明的电容量称为标称电容量,电容允许偏差的定义是允许容量偏差与标称容量的比值,一般用百分数表示。

GB/T1410-2006、 ASTM D257-99 、 GB/T2439-2001、GB/T10581-2006、 GB/T1692-2008、GB/T 12703.4-2010、 GB/T10064-2006。

半导体粉末电阻率测试仪
8.4. 测量绝缘材料电阻(率)
    绝缘材料如塑料(聚乙稀,聚氯乙稀,尼龙等)橡胶等的电阻率很高,测量时应采取屏蔽措施,以免读数不稳甚至无法测量。测量时可采用三电极。具体方法可参照国家标准GB1410。
8.5. 测量电流及1014Ω以上超高电阻的测量   
    当测量超过1014Ω以上的超高电阻时,可以通过测量电流的方法,然后用欧姆
定律求出超高电阻值。测量电流与测量电阻的方法基本相同, 
介电强度 电容承受一定大小的电场强度(或电压)而不致被击穿的能力称为介电强度,一般通过耐压试验加以考核。通过耐压试验,可以快速剔除存在隐患的电容,保证成品电容在使用寿命期间工作的可靠性。 
绝缘材料用于将电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘;固体绝缘材料还起机械支撑作用。对于这些用途,一般都希望材料具有尽可能高的绝缘电阻,有均匀一致的、得到认可的机械、化学和耐热性能。表面电阻随湿度变化很快,而体积电阻随温度变化却很慢,尽管其*终的变化也许较大。
4、损耗 电场作用下单位时间内电容因发热而消耗的能量称为电容的损耗。直流电场作用下主要表现为介质的漏导损耗,交流电场作用下除漏导损耗外,还有介质的极化损耗。此外,还必须计入电容金属部分(包括接触电阻)引起的损耗。通常用损耗角正切表示电容的损耗特性。 
体积电阻率能被用作选择特定用途绝缘材料的一个参数。电阻率随温度和捏度的变化而显著变 化,因此在为一些运行条件而设计时必须对其了解。体积电阻率的测量常被用于检查绝缘材料生产是否始终如一,或检测能影响材料质量而又不能用其他方法检测到的导电杂质。

产品名称:金属材料电阻率测试仪

产品型号:GEST-123

参考标准:

 GB/T3048电线电缆电性能试验方法第2部分:金属材料电阻率试验

    GB 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

GB-T 19289-2003 电工钢片()的密度、电阻率和叠装系数的测量方法

JB-T 6773-1993 金属石墨制品  电阻率试验方法1

产品概述:

金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。

仪器适用于金属线材、金属板材、金属块体等不同形状导体材料进行检测必备测试设备。

 仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:

测量范围:10-6---105Ω  分辨率 10-8Ω

                   二、 电压测量:

1 量程 2 mV20 mV200 mV2V

2 测量误差  2mA±(0.5%读数+8)20mV—2V±(0.5%读数+2)

3 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

半导体粉末电阻率测试仪

 仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:

测量半导电电阻率时: 电阻率10-6—105Ω-cm;分辩率10-8Ω-cm

                      测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率0.01

二、 电压测量:

1 量程 2 mV20 mV200 mV2V

2 测量误差  2mA±(0.5%读数+8)20mV—2V±(0.5%读数+2)

3 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1 电流输出: 10μA100μA1mA10mA100mA0.5A1A10A

2.    电流误差:±(0.5%读数+2)

四、 数据打印:

可对测试结果进行打印,显示结果为:体积电阻率、电阻值

五、测量电极:

1、电极材质:铜

2、测量距离:10MM

六、粉末套筒:

1、内径:16mm

2、行程:50 mm

七、粉末测试专用恒加载装置及测试电极:

电极是双柱型、立式结构

加载机构:步进电极

加载方式:自动加载

负荷传感器:10KN

负荷显示方式:力值、压强

负荷加载:设定好指定的负荷后,自动加载并恒负荷保持

试验流程:把被测试样安装并固定好后,设定好要加载的负荷和保持时间,点击开始后,自动加载,到达设定的负荷后自动停止,到达设定的时间后,自动返回初始位。

样品量和电极尺寸,依据客户要求协商确定。

套筒内经:16MM/30MM

半导体粉末电阻率测试仪
5、绝缘性能 表征电容绝缘性能的参数有:绝缘电阻、时间常数和漏电流。电容上所加的直流电压与所产生的漏电流的比值称为绝缘电阻。绝缘电阻这种绝缘性指标一般适用于电容量不大于0.1uF的有机电容以及所有有机电容。时间常数是绝缘电阻与电容量的乘积,它仅取决于介质本身性质,而与电容的几何尺寸无关。时间常数一般适用于电容量大于 0.1uF的有机介质电容的绝缘性能指标。对于电解电容,由于其金属化膜介质存在很多缺陷,无法采用材料特性表征电容绝缘特性,故直接应用漏电流评价电解电容的绝缘性。 
四探针电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻,主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。
  电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数。测量电阻率的方法很多,四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便,精确度高,对样品的形状无严格要求。
  *常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。
  四探针电阻率测试仪测试四探针笔方法:
  一般情况下,更换钢针之类,不需要拆开探头,只需要用拔出要更换的钢针,再重新安装新针,如果断针在孔内并且不拆开难以取出,必须按照以下步骤进行操作:
  1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝,轻轻脱下尾部航空插口,保证探针头部旋转时同步旋转,防止扭线断线,短接;
  2、轻轻拧开探针头子,然后小心将铜片拉出,记住七片绝缘片与铜片之间的位置,(四片铜片每片间夹一片绝缘片,两边的铜片外侧各两片),将断针从铜片卡口座里取下即可;
  3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱,铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列,并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列,以免短接;
数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
    仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
    仪器采用了*新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序,通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。
    测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据,把采集到的数据在计算机中加以分析,然后把测试数据以表格,图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看,还可以把采集到的数据输出到Excel中,让用户对数据进行各种数据分析
单电四探针方阻测试仪FT-331更适合于普通需求,这个精度方面还是足够用的,还有量程也是足够大

更新时间:2020/9/8 15:28:55

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