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产品展示

粉尘比电阻测试仪

粉尘比电阻测试仪

价格:电议 型号:GEST-121

原产地:中国大陆发布时间:2020/8/1 10:25:25

粉尘比电阻测试仪
炭素材料电阻率测试仪主要用于测量炭素材料电阻率的专用仪器.
仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量
试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。
粉尘比电阻测试仪

采购度:27

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详细内容

 粉尘比电阻测试仪

导体粉末电阻率测试仪

产品名称:导体粉末电阻率试验仪

产品型号:GEST-126

参考标准:YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分:粉末电阻率的测定.pdf

GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

产品概述:

粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.

由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电

,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。

仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业,进行检测必备测试设备。

粉尘比电阻测试仪

产品名称:金属材料电阻率测试仪

产品型号:GEST-123

参考标准:

 GB/T3048电线电缆电性能试验方法第2部分:金属材料电阻率试验

    GB 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

GB-T 19289-2003 电工钢片()的密度、电阻率和叠装系数的测量方法

JB-T 6773-1993 金属石墨制品  电阻率试验方法1

产品概述:

金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。

仪器适用于金属线材、金属板材、金属块体等不同形状导体材料进行检测必备测试设备。

 仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:

测量范围:10-6---105Ω  分辨率 10-8Ω

                   二、 电压测量:

1 量程 2 mV20 mV200 mV2V

2 测量误差  2mA±(0.5%读数+8)20mV—2V±(0.5%读数+2)

3 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

粉尘比电阻测试仪

 仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:

测量半导电电阻率时: 电阻率10-6—105Ω-cm;分辩率10-8Ω-cm

                      测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率0.01

二、 电压测量:

1 量程 2 mV20 mV200 mV2V

2 测量误差  2mA±(0.5%读数+8)20mV—2V±(0.5%读数+2)

3 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1 电流输出: 10μA100μA1mA10mA100mA0.5A1A10A

2.    电流误差:±(0.5%读数+2)

四、 数据打印:

可对测试结果进行打印,显示结果为:体积电阻率、电阻值

五、测量电极:

1、电极材质:铜

2、测量距离:10MM

六、粉末套筒:

1、内径:16mm

2、行程:50 mm

七、粉末测试专用恒加载装置及测试电极:

电极是双柱型、立式结构

加载机构:步进电极

加载方式:自动加载

负荷传感器:10KN

负荷显示方式:力值、压强

负荷加载:设定好指定的负荷后,自动加载并恒负荷保持

试验流程:把被测试样安装并固定好后,设定好要加载的负荷和保持时间,点击开始后,自动加载,到达设定的负荷后自动停止,到达设定的时间后,自动返回初始位。

样品量和电极尺寸,依据客户要求协商确定。

套筒内经:16MM/30MM

粉尘比电阻测试仪
四探针电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻,主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。
  电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数。测量电阻率的方法很多,四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便,精确度高,对样品的形状无严格要求。
  *常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。
  四探针电阻率测试仪测试四探针笔方法:
  一般情况下,更换钢针之类,不需要拆开探头,只需要用拔出要更换的钢针,再重新安装新针,如果断针在孔内并且不拆开难以取出,必须按照以下步骤进行操作:
  1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝,轻轻脱下尾部航空插口,保证探针头部旋转时同步旋转,防止扭线断线,短接;
  2、轻轻拧开探针头子,然后小心将铜片拉出,记住七片绝缘片与铜片之间的位置,(四片铜片每片间夹一片绝缘片,两边的铜片外侧各两片),将断针从铜片卡口座里取下即可;
  3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱,铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列,并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列,以免短接;
  4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子,并先将探针头子拧紧,再将尾部航空头插上,并且旋紧小螺丝;
  5、将针装好,注意针头针尾方向,尖头为探针头部。

更新时间:2020/9/8 15:28:55

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